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X荧光勘查技术及其在地质找矿中的应用

X荧光勘查技术及其在地质找矿中的应用

定  价:228 元

丛书名:高能物理与核应用技术

        

  • 作者:周四春 等
  • 出版时间:2020/9/1
  • ISBN:9787030558510
  • 出 版 社:科学出版社
  • 中图法分类:O657.34 
  • 页码:456
  • 纸张:
  • 版次:01
  • 开本:16
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读者对象:学习核技术及应用、地球物理勘查、地球化学勘查及地质勘查相关专业的本科生与研究生;从事核分析、地球物理勘查、地球化学勘查及地质勘查工作的工程技术人员。

X荧光勘查技术是现场X荧光测试技术与地球化学理论相结合的成果。该技术应用手提式X荧光仪器为设备,现场快速捕获找矿信息,并依据地球化学理论剖析捕获的找矿信息,以期实现对目标矿产的探寻。该技术的特点是能实时现场获取找矿信息,对肉眼无法区分的找矿信息可以定性甚至定量,可显著缩短找矿周期。本书在系统介绍X荧光勘查技术的物理与地球化学基础、野外工作方法、数据处理与分析解释的基础上,给出了在Sr、Au、Cu、Pb、Zn等矿产勘查中的众多应用实例,对应用X荧光勘查技术找矿的工程技术人员有较好的参考作用。

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