CEI（connectedelementinterferometry，连线干涉测量，也可称为“短基线干涉测量”）技术是干涉测量技术的一种，其基线长度一般为几十千米；其通过对载波相时延的测量，进而实时获得目标相对于基线矢量的精确角位置，可适用于中高轨卫星的高精度测定轨及相对定位。《CEI测量技术原理、系统设计与应用》重点介绍了CEI技术的基本原理，CEI系统的设计构建，实现CEI所突破的关键技术，以及CEI技术的工程应用实例；内容丰富全面，理论与实践并重。《CEI测量技术原理、系统设计与应用》有助

本书共分4章，系统地介绍了力、电、光等基础理论知识和物理实验基础知识，并在此基础上根据物理实验室建设情况设计了力、电、光共21个实验项目，使基础理论和实践操作有机统一，并拓展了相关知识在国防军事与生产生活中的应用。

本书系统地介绍了物理和材料研究领域常用的单晶生长和薄膜制备方法，以及用来表征晶体或薄膜结构、显微组织、形貌、成分、价态等方面的分析技术；涵盖了X射线衍射技术、各种电子显微技术、扫描探针技术、能谱技术、表面物理分析技术、核物理方法测试技术和光谱分析技术。并对这些分析技术的基本原理、仪器结构和应用等进行了系统的阐述。具体涉及的分析仪器包括X射线衍射仪、透射电子显微镜、扫描电子显微镜、能谱仪、波谱仪、低能电子衍射、高能电子衍射、俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、扫描隧道显微镜、原子力显微镜、正电子湮没技