互换性与技术测量

定　　价：39 元

• 作者：赵燕, 吴智慧主编
• 出版时间：2022/7/1
• ISBN：9787568082969
• 出 版 社：华中科技大学出版社

• 中图法分类：TG801 
• 页码：169
• 版次：1
• 开本：26cm

内容简介

本书是赵燕主编的《互换性与技术测量》的第二版。从互换性生产要求的实际出发, 简要系统地介绍了几何量公差的选用和检测的基本知识, 分析和介绍了我国公差和配合方面的新标准, 阐述了技术测量的基本原理。全书共分十一章, 主要内容包括绪论、孔与轴的极限与配合、长度测量基础、几何公差与误差检测、表面粗糙度、光滑极限量规、滚动轴承的公差与配合、圆锥的公差与配合、螺纹公差、键和花键的公差与配合、圆柱齿轮的公差与配合等。每章后面附有思考题与练习题, 便于读者复习和巩固知识。